La metodología de mejora Seis Sigma requiere que la calidad se mida de una manera objetiva. En este aspecto no se diferencia de otros métodos de mejora preexistentes. Sin embargo, Seis Sigma aporta una métrica de medida que tuvo su origen en Motorola, como hemos visto en otra entrada: el nivel sigma.
Esta métrica es, en concepto, idéntica a los índices de capacidad de proceso Cp (para el nivel sigma a corto plazo) y Cpk (para el nivel sigma a largo plazo) que se utilizan en ingeniería de calidad desde hace décadas. Sigma (σ) es la letra griega que se emplea para representar el parámetro que mide la variabilidad de una distribución estadística (desviación típica). Si un proceso sigue una función de distribución de probabilidad normal (nuestra vieja amiga la campana de Gauss) y el intervalo de tolerancia es igual a 12σ (es decir, seis desviaciones típicas a cada lado del valor nominal), entonces la fracción defectuosa de un proceso centrado sería 0,002 ppm. En esta caso, se diría que el proceso tiene un nivel de calidad 6σ. Si la amplitud fuera de cinco desviaciones típicas, el nivel de calidad sería de 5σ, y así sucesivamente.
Naturalmente, en el mundo real los procesos no están estables con la media invariable en el valor nominal. Supongamos que el proceso deriva 1.5σ hacia alguno de los extremos. En este caso, la fracción defectuosa aumentaría hasta 3.4 ppm, que es el objetivo fijado por Motorola en su «Programa Seis Sigma«. Este 1.5σ es indudablemente arbitrario (ya lo vimos en otra entrada) y está relacionado con la capacidad de detección de la deriva de los procesos. La razón de por qué hay que considerar un desplazamiento precisamente de 1.5σ es algo muy cuestionado por distintos expertos, empezando por mí mismo. Aunque, de todos modos, es una discusión estéril que se puede reconducir muy bien.
En la figura arriba mostrada se pone de manifiesto el efecto del desplazamiento.
A través de la campana de Gauss, fijado un nivel sigma, es posible conocer la fracción defectuosa y a la inversa. Si no se considera el desplazamiento se denomina nivel a corto plazo (Zst), ya que el proceso no puede operar totalmente centrado de manera indefinida. Y si se considera el desplazamiento se denomina nivel a largo plazo (Zlt).
En la siguiente tabla se presenta la relación que existe entre el nivel sigma, la fracción defectuosa y lo que en terminología Seis Sigma se denomina FTY (First Time Yield, es decir la fracción de elementos fabricados “bien a la primera sin ningún defecto”, como en TPS). Puede observarse que en la medida que se sube de nivel, resulta más difícil la siguiente etapa.
Y en esta otra tabla representamos el FTY en función del número de componentes que lo integran y del nivel sigma con el que han sido fabricados dichos componentes. Por ejemplo, si el elemento está compuesto por 100 componentes distintos, fabricados con 4σ, para que el elemento sea conforme deberán serlo sus 100 componentes, por lo que únicamente se fabricarán bien a la primera el 53.64%. Obviamente esta cifra está lejos de cualquier estándar competitivo, por lo que es necesario que los componentes se fabriquen con un nivel sigma mayor.
Cualquier profesional versado en SPC identificará rápidamente la relación que tiene el nivel de calidad sigma empleado en la metodología Seis Sigma con los índices tradicionales Cp y Cpk. Pero lo veremos con más detalle en otra entrada.